Han, S. Optical Metrology and Inspection for Industrial Applications X. SPIE Digital Library.
Chicago-viite (17. p.)Han, Sen. Optical Metrology and Inspection for Industrial Applications X. SPIE Digital Library.
MLA-viite (9. p.)Han, Sen. Optical Metrology and Inspection for Industrial Applications X. SPIE Digital Library.
Varoitus: Nämä viitteet eivät aina ole täysin luotettavia.