APA-ийн эшлэл(7 дахь хэвлэлт)

Cain, J. Metrology, Inspection, and Process Control for Microlithography XXIX. SPIE Digital Library.

Чикаго-гийн эшлэл (17 дахь хэвлэлт)

Cain, Jason. Metrology, Inspection, and Process Control for Microlithography XXIX. SPIE Digital Library.

MLA -ийн эшлэл (9 дэх хэвлэлт)

Cain, Jason. Metrology, Inspection, and Process Control for Microlithography XXIX. SPIE Digital Library.

Анхааруулга: Эдгээр ишлэлүүд үргэлж 100% үнэн зөв биш байж магадгүй.