Monte Carlo Simulation and Analysis in Modern Optical Tolerancing

Xehetasun bibliografikoak
Egile nagusia: Siew, Ronian
Formatua: Baliabide elektronikoa eBook
Hizkuntza:ingelesa
Argitaratua: SPIE Digital Library, 1/1/21
Gaiak:
Sarrera elektronikoa:Full text available on Research4Life (SPIE Digital Library)

Antzeko izenburuak