Optical, Opto-Atomic, and Entanglement-Enhanced Precision Metrology II

Bibliografske podrobnosti
Drugi avtorji: Shahriar, Selim
Format: Elektronski eKnjiga
Jezik:angleščina
Izdano: SPIE Digital Library, 3/19/20
Teme:
Online dostop:Full text available on Research4Life (SPIE Digital Library)

Podobne knjige/članki