Optical, Opto-Atomic, and Entanglement-Enhanced Precision Metrology II

Podrobná bibliografie
Další autoři: Shahriar, Selim
Médium: Elektronický zdroj E-kniha
Jazyk:angličtina
Vydáno: SPIE Digital Library, 3/19/20
Témata:
On-line přístup:Full text available on Research4Life (SPIE Digital Library)

Podobné jednotky