Adan, O. Metrology, Inspection, and Process Control for Microlithography XXXIV. SPIE Digital Library.
Чикаго-гийн эшлэл (17 дахь хэвлэлт)Adan, Ofer. Metrology, Inspection, and Process Control for Microlithography XXXIV. SPIE Digital Library.
MLA -ийн эшлэл (9 дэх хэвлэлт)Adan, Ofer. Metrology, Inspection, and Process Control for Microlithography XXXIV. SPIE Digital Library.
Анхааруулга: Эдгээр ишлэлүүд үргэлж 100% үнэн зөв биш байж магадгүй.