Han, S. Optical Metrology and Inspection for Industrial Applications VII. SPIE Digital Library.
توثيق أسلوب شيكاغو (الطبعة السابعة عشر)Han, Sen. Optical Metrology and Inspection for Industrial Applications VII. SPIE Digital Library.
توثيق جمعية اللغة المعاصرة MLA (الإصدار التاسع)Han, Sen. Optical Metrology and Inspection for Industrial Applications VII. SPIE Digital Library.
تحذير: قد لا تكون هذه الاستشهادات دائما دقيقة بنسبة 100%.