Optical Metrology and Inspection for Industrial Applications VII

Λεπτομέρειες βιβλιογραφικής εγγραφής
Άλλοι συγγραφείς: Han, Sen
Μορφή: Ηλεκτρονική πηγή Ηλ. βιβλίο
Γλώσσα:Αγγλικά
Έκδοση: SPIE Digital Library, 11/11/20
Θέματα:
Διαθέσιμο Online:Full text available on Research4Life (SPIE Digital Library)

Παρόμοια τεκμήρια