Adan, O. Metrology, Inspection, and Process Control for Semiconductor Manufacturing XXXV. SPIE Digital Library.
Παραπομπή σε μορφή Chicago (17η εκδ.)Adan, Ofer. Metrology, Inspection, and Process Control for Semiconductor Manufacturing XXXV. SPIE Digital Library.
Παραπομπή σε μορφή MLA (9th εκδ.)Adan, Ofer. Metrology, Inspection, and Process Control for Semiconductor Manufacturing XXXV. SPIE Digital Library.
Πρόσοχή: Οι παραπομπές μπορεί να μην είναι 100% ακριβείς.