Adan, O. Metrology, Inspection, and Process Control for Semiconductor Manufacturing XXXV. SPIE Digital Library.
শিকাগো স্টাইল (17 তম সংস্করণ) উদ্ধৃতিAdan, Ofer. Metrology, Inspection, and Process Control for Semiconductor Manufacturing XXXV. SPIE Digital Library.
M.L.A (9 ম সংস্করণ) উদ্ধৃতিAdan, Ofer. Metrology, Inspection, and Process Control for Semiconductor Manufacturing XXXV. SPIE Digital Library.
সতর্কবাণী: সাইটেশন সবসময় 100% নির্ভুল হতে পারে না.