Cytowanie według stylu APA (wyd. 7)

Adan, O. Metrology, Inspection, and Process Control for Semiconductor Manufacturing XXXV. SPIE Digital Library.

Cytowanie według stylu Chicago (wyd. 17)

Adan, Ofer. Metrology, Inspection, and Process Control for Semiconductor Manufacturing XXXV. SPIE Digital Library.

Cytowanie według stylu MLA (wyd. 9)

Adan, Ofer. Metrology, Inspection, and Process Control for Semiconductor Manufacturing XXXV. SPIE Digital Library.

Uwaga: Te cytaty mogą odróżniać się od wytycznej twojego fakultetu..