Automated Visual Inspection and Machine Vision IV

Xehetasun bibliografikoak
Beste egile batzuk: Beyerer, Jürgen
Formatua: Baliabide elektronikoa eBook
Hizkuntza:ingelesa
Argitaratua: SPIE Digital Library, 6/30/21
Gaiak:
Sarrera elektronikoa:Full text available on Research4Life (SPIE Digital Library)

Antzeko izenburuak