Applied Optical Metrology IV

Podrobná bibliografie
Další autoři: Novak, Erik
Médium: Elektronický zdroj E-kniha
Jazyk:angličtina
Vydáno: SPIE Digital Library, 8/30/21
Témata:
On-line přístup:Full text available on Research4Life (SPIE Digital Library)
Popis
Popis jednotky:<strong>On-Campus Access Only (IP based access)</strong>
Fyzický popis:1 online resource
Médium:Mode of access: Internet
ISBN:9781510644724
9781510644731
Přístup:Electronic access restricted to authorized AUW faculty, staff and students