Han, S. Optical Metrology and Inspection for Industrial Applications VIII. SPIE Digital Library.
Цитирование в стиле Чикаго (17-е изд.)Han, Sen. Optical Metrology and Inspection for Industrial Applications VIII. SPIE Digital Library.
Цитирование MLA (9-е изд.)Han, Sen. Optical Metrology and Inspection for Industrial Applications VIII. SPIE Digital Library.
Предупреждение: эти цитированмия не могут быть всегда правильны на 100%.