Optical Metrology and Inspection for Industrial Applications VIII

Bibliographische Detailangaben
Weitere Verfasser: Han, Sen
Format: Elektronisch E-Book
Sprache:Englisch
Veröffentlicht: SPIE Digital Library, 1/1/10
Schlagworte:
Online-Zugang:Full text available on Research4Life (SPIE Digital Library)
Beschreibung
Beschreibung:<strong>On-Campus Access Only (IP based access)</strong>
Beschreibung:1 online resource
Format:Mode of access: Internet
ISBN:9781510646476
9781510646483
Zugangseinschränkungen:Electronic access restricted to authorized AUW faculty, staff and students