Optical Metrology and Inspection for Industrial Applications VIII

Detaylı Bibliyografya
Diğer Yazarlar: Han, Sen
Materyal Türü: Elektronik Ekitap
Dil:İngilizce
Baskı/Yayın Bilgisi: SPIE Digital Library, 1/1/10
Konular:
Online Erişim:Full text available on Research4Life (SPIE Digital Library)
Diğer Bilgiler
Diğer Bilgileri:<strong>On-Campus Access Only (IP based access)</strong>
Fiziksel Özellikler:1 online resource
Materyal Türü:Mode of access: Internet
ISBN:9781510646476
9781510646483
Erişim:Electronic access restricted to authorized AUW faculty, staff and students