Optical, Opto-Atomic, and Entanglement-Enhanced Precision Metrology

Podrobná bibliografie
Další autoři: Shahriar, Selim
Médium: Elektronický zdroj E-kniha
Jazyk:angličtina
Vydáno: SPIE Digital Library, 4/15/19
Témata:
On-line přístup:Full text available on Research4Life (SPIE Digital Library)
Popis
Popis jednotky:<strong>On-Campus Access Only (IP based access)</strong>
Fyzický popis:1 online resource
Médium:Mode of access: Internet
ISBN:9781510625105
9781510625112
Přístup:Electronic access restricted to authorized AUW faculty, staff and students