Optical, Opto-Atomic, and Entanglement-Enhanced Precision Metrology
| Outros Autores: | |
|---|---|
| Formato: | Recurso Electrónico livro electrónico |
| Idioma: | inglês |
| Publicado em: |
SPIE Digital Library,
4/15/19
|
| Assuntos: | |
| Acesso em linha: | Full text available on Research4Life (SPIE Digital Library) |
| Descrição do item: | <strong>On-Campus Access Only (IP based access)</strong> |
|---|---|
| Descrição Física: | 1 online resource |
| Formato: | Mode of access: Internet |
| ISBN: | 9781510625105 9781510625112 |
| Acesso: | Electronic access restricted to authorized AUW faculty, staff and students |