Optical, Opto-Atomic, and Entanglement-Enhanced Precision Metrology

Бібліографічні деталі
Інші автори: Shahriar, Selim
Формат: Електронний ресурс eКнига
Мова:Англійська
Опубліковано: SPIE Digital Library, 4/15/19
Предмети:
Онлайн доступ:Full text available on Research4Life (SPIE Digital Library)
Опис
Опис примірника:<strong>On-Campus Access Only (IP based access)</strong>
Фізичний опис:1 online resource
Формат:Mode of access: Internet
ISBN:9781510625105
9781510625112
Доступ:Electronic access restricted to authorized AUW faculty, staff and students