Optical, Opto-Atomic, and Entanglement-Enhanced Precision Metrology

التفاصيل البيبلوغرافية
مؤلفون آخرون: Shahriar, Selim
التنسيق: الكتروني كتاب الكتروني
اللغة:الإنجليزية
منشور في: SPIE Digital Library, 4/15/19
الموضوعات:
الوصول للمادة أونلاين:Full text available on Research4Life (SPIE Digital Library)

مواد مشابهة