Optical, Opto-Atomic, and Entanglement-Enhanced Precision Metrology

Xehetasun bibliografikoak
Beste egile batzuk: Shahriar, Selim
Formatua: Baliabide elektronikoa eBook
Hizkuntza:ingelesa
Argitaratua: SPIE Digital Library, 4/15/19
Gaiak:
Sarrera elektronikoa:Full text available on Research4Life (SPIE Digital Library)

Antzeko izenburuak