Optical, Opto-Atomic, and Entanglement-Enhanced Precision Metrology

Մատենագիտական մանրամասներ
Այլ հեղինակներ: Shahriar, Selim
Ձևաչափ: Էլեկտրոնային էլ․ գիրք
Լեզու:անգլերեն
Հրապարակվել է: SPIE Digital Library, 4/15/19
Խորագրեր:
Առցանց հասանելիություն:Full text available on Research4Life (SPIE Digital Library)

Նմանատիպ նյութեր