Optical, Opto-Atomic, and Entanglement-Enhanced Precision Metrology

Detalhes bibliográficos
Outros Autores: Shahriar, Selim
Formato: Recurso Electrónico livro electrónico
Idioma:inglês
Publicado em: SPIE Digital Library, 4/15/19
Assuntos:
Acesso em linha:Full text available on Research4Life (SPIE Digital Library)

Registos relacionados