Optical, Opto-Atomic, and Entanglement-Enhanced Precision Metrology

Библиографические подробности
Другие авторы: Shahriar, Selim
Формат: Электронный ресурс eКнига
Язык:английский
Опубликовано: SPIE Digital Library, 4/15/19
Предметы:
Online-ссылка:Full text available on Research4Life (SPIE Digital Library)

Схожие документы