Optical, Opto-Atomic, and Entanglement-Enhanced Precision Metrology
| Kolejni autorzy: | |
|---|---|
| Format: | Elektroniczne E-book |
| Język: | angielski |
| Wydane: |
SPIE Digital Library,
4/15/19
|
| Hasła przedmiotowe: | |
| Dostęp online: | Full text available on Research4Life (SPIE Digital Library) |