Optical, Opto-Atomic, and Entanglement-Enhanced Precision Metrology

Bibliografische gegevens
Hoofdauteur: Shahriar, Selim M.
Formaat: Elektronisch E-boek
Taal:Engels
Gepubliceerd in: SPIE Digital Library, 1/1/19
Onderwerpen:
Online toegang:Full text available on Research4Life (SPIE Digital Library)

Gelijkaardige items