Optical, Opto-Atomic, and Entanglement-Enhanced Precision Metrology

Dades bibliogràfiques
Autor principal: Shahriar, Selim M.
Format: Electrònic eBook
Idioma:anglès
Publicat: SPIE Digital Library, 1/1/19
Matèries:
Accés en línia:Full text available on Research4Life (SPIE Digital Library)

Ítems similars