Optical, Opto-Atomic, and Entanglement-Enhanced Precision Metrology

Bibliografiske detaljer
Hovedforfatter: Shahriar, Selim M.
Format: Electronisk eBog
Sprog:engelsk
Udgivet: SPIE Digital Library, 1/1/19
Fag:
Online adgang:Full text available on Research4Life (SPIE Digital Library)

Lignende værker