Optical, Opto-Atomic, and Entanglement-Enhanced Precision Metrology

Detalles Bibliográficos
Autor principal: Shahriar, Selim M.
Formato: Electrónico eBook
Lenguaje:inglés
Publicado: SPIE Digital Library, 1/1/19
Materias:
Acceso en línea:Full text available on Research4Life (SPIE Digital Library)

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