Optical, Opto-Atomic, and Entanglement-Enhanced Precision Metrology

Dettagli Bibliografici
Autore principale: Shahriar, Selim M.
Natura: Elettronico eBook
Lingua:inglese
Pubblicazione: SPIE Digital Library, 1/1/19
Soggetti:
Accesso online:Full text available on Research4Life (SPIE Digital Library)

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