Optical, Opto-Atomic, and Entanglement-Enhanced Precision Metrology

Detalhes bibliográficos
Autor principal: Shahriar, Selim M.
Formato: Recurso Electrónico livro electrónico
Idioma:inglês
Publicado em: SPIE Digital Library, 1/1/19
Assuntos:
Acesso em linha:Full text available on Research4Life (SPIE Digital Library)

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