Optical, Opto-Atomic, and Entanglement-Enhanced Precision Metrology

Detaylı Bibliyografya
Yazar: Shahriar, Selim M.
Materyal Türü: Elektronik Ekitap
Dil:İngilizce
Baskı/Yayın Bilgisi: SPIE Digital Library, 1/1/19
Konular:
Online Erişim:Full text available on Research4Life (SPIE Digital Library)

Benzer Materyaller