Optical, Opto-Atomic, and Entanglement-Enhanced Precision Metrology

Бібліографічні деталі
Автор: Shahriar, Selim M.
Формат: Електронний ресурс eКнига
Мова:Англійська
Опубліковано: SPIE Digital Library, 1/1/19
Предмети:
Онлайн доступ:Full text available on Research4Life (SPIE Digital Library)

Схожі ресурси