Automated Visual Inspection and Machine Vision III

Bibliographische Detailangaben
Weitere Verfasser: Beyerer, Jürgen
Format: Elektronisch E-Book
Sprache:Englisch
Veröffentlicht: SPIE Digital Library, 10/4/19
Schlagworte:
Online-Zugang:Full text available on Research4Life (SPIE Digital Library)
Beschreibung
Beschreibung:<strong>On-Campus Access Only (IP based access)</strong>
Beschreibung:1 online resource
Format:Mode of access: Internet
ISBN:9781510628014
9781510628021
Zugangseinschränkungen:Electronic access restricted to authorized AUW faculty, staff and students