Automated Visual Inspection and Machine Vision III

Λεπτομέρειες βιβλιογραφικής εγγραφής
Άλλοι συγγραφείς: Beyerer, Jürgen
Μορφή: Ηλεκτρονική πηγή Ηλ. βιβλίο
Γλώσσα:Αγγλικά
Έκδοση: SPIE Digital Library, 10/4/19
Θέματα:
Διαθέσιμο Online:Full text available on Research4Life (SPIE Digital Library)
Περιγραφή
Περιγραφή τεκμηρίου:<strong>On-Campus Access Only (IP based access)</strong>
Φυσική περιγραφή:1 online resource
Μορφή:Mode of access: Internet
ISBN:9781510628014
9781510628021
Πρόσβαση:Electronic access restricted to authorized AUW faculty, staff and students