Automated Visual Inspection and Machine Vision III

Detalles Bibliográficos
Otros Autores: Beyerer, Jürgen
Formato: Electrónico eBook
Lenguaje:inglés
Publicado: SPIE Digital Library, 10/4/19
Materias:
Acceso en línea:Full text available on Research4Life (SPIE Digital Library)
Descripción
Notas:<strong>On-Campus Access Only (IP based access)</strong>
Descripción Física:1 online resource
Formato:Mode of access: Internet
ISBN:9781510628014
9781510628021
Acceso:Electronic access restricted to authorized AUW faculty, staff and students