Automated Visual Inspection and Machine Vision III

Bibliografiset tiedot
Muut tekijät: Beyerer, Jürgen
Aineistotyyppi: Elektroninen E-kirja
Kieli:englanti
Julkaistu: SPIE Digital Library, 10/4/19
Aiheet:
Linkit:Full text available on Research4Life (SPIE Digital Library)
Kuvaus
Huomautukset:<strong>On-Campus Access Only (IP based access)</strong>
Ulkoasu:1 online resource
Aineistotyyppi:Mode of access: Internet
ISBN:9781510628014
9781510628021
Pääsy:Electronic access restricted to authorized AUW faculty, staff and students