Automated Visual Inspection and Machine Vision III

מידע ביבליוגרפי
מחברים אחרים: Beyerer, Jürgen
פורמט: אלקטרוני ספר אלקטרוני
שפה:אנגלית
יצא לאור: SPIE Digital Library, 10/4/19
נושאים:
גישה מקוונת:Full text available on Research4Life (SPIE Digital Library)
תיאור
תאור פריט:<strong>On-Campus Access Only (IP based access)</strong>
תיאור פיזי:1 online resource
פורמט:Mode of access: Internet
ISBN:9781510628014
9781510628021
גישה:Electronic access restricted to authorized AUW faculty, staff and students