Automated Visual Inspection and Machine Vision III

Detalhes bibliográficos
Outros Autores: Beyerer, Jürgen
Formato: Recurso Eletrônico livro eletrônico
Idioma:inglês
Publicado em: SPIE Digital Library, 10/4/19
Assuntos:
Acesso em linha:Full text available on Research4Life (SPIE Digital Library)
Descrição
Descrição do item:<strong>On-Campus Access Only (IP based access)</strong>
Descrição Física:1 online resource
Formato:Mode of access: Internet
ISBN:9781510628014
9781510628021
Acesso:Electronic access restricted to authorized AUW faculty, staff and students