Automated Visual Inspection and Machine Vision III

Библиографические подробности
Другие авторы: Beyerer, Jürgen
Формат: Электронный ресурс eКнига
Язык:английский
Опубликовано: SPIE Digital Library, 10/4/19
Предметы:
Online-ссылка:Full text available on Research4Life (SPIE Digital Library)
Описание
Примечание:<strong>On-Campus Access Only (IP based access)</strong>
Объем:1 online resource
Формат:Mode of access: Internet
ISBN:9781510628014
9781510628021
Доступ:Electronic access restricted to authorized AUW faculty, staff and students