Assoufid, L. Advances in Metrology for X-Ray and EUV Optics VIII. SPIE Digital Library.
Чикаго стиль цитування (17-те видання)Assoufid, Lahsen. Advances in Metrology for X-Ray and EUV Optics VIII. SPIE Digital Library.
Стиль цитування MLA (9-ме видання)Assoufid, Lahsen. Advances in Metrology for X-Ray and EUV Optics VIII. SPIE Digital Library.
Попередження: стилі цитування не завжди правильні на всі 100%.