Advances in Metrology for X-Ray and EUV Optics VIII

Մատենագիտական մանրամասներ
Այլ հեղինակներ: Assoufid, Lahsen
Ձևաչափ: Էլեկտրոնային էլ․ գիրք
Լեզու:անգլերեն
Հրապարակվել է: SPIE Digital Library, 1/1/19
Խորագրեր:
Առցանց հասանելիություն:Full text available on Research4Life (SPIE Digital Library)
Նկարագրություն
Նյութի նկարագրություն:<strong>On-Campus Access Only (IP based access)</strong>
Ֆիզիկական նկարագրություն:1 online resource
Ձևաչափ:Mode of access: Internet
ISBN:9781510629110
9781510629127
Հասանելի:Electronic access restricted to authorized AUW faculty, staff and students