Advances in Metrology for X-Ray and EUV Optics VIII
| Kolejni autorzy: | |
|---|---|
| Format: | Elektroniczne E-book |
| Język: | angielski |
| Wydane: |
SPIE Digital Library,
1/1/19
|
| Hasła przedmiotowe: | |
| Dostęp online: | Full text available on Research4Life (SPIE Digital Library) |
| Deskrypcja: | <strong>On-Campus Access Only (IP based access)</strong> |
|---|---|
| Opis fizyczny: | 1 online resource |
| Format: | Mode of access: Internet |
| ISBN: | 9781510629110 9781510629127 |
| Ograniczenie dostępu: | Electronic access restricted to authorized AUW faculty, staff and students |