Sanchez, M. Metrology, Inspection, and Process Control for Microlithography XXXI. SPIE Digital Library.
Цитирование в стиле Чикаго (17-е изд.)Sanchez, Martha. Metrology, Inspection, and Process Control for Microlithography XXXI. SPIE Digital Library.
Цитирование MLA (9-е изд.)Sanchez, Martha. Metrology, Inspection, and Process Control for Microlithography XXXI. SPIE Digital Library.
Предупреждение: эти цитированмия не могут быть всегда правильны на 100%.