Beyerer, J. Automated Visual Inspection and Machine Vision II. SPIE Digital Library.
Cytowanie według stylu Chicago (wyd. 17)Beyerer, Jürgen. Automated Visual Inspection and Machine Vision II. SPIE Digital Library.
Cytowanie według stylu MLA (wyd. 9)Beyerer, Jürgen. Automated Visual Inspection and Machine Vision II. SPIE Digital Library.
Uwaga: Te cytaty mogą odróżniać się od wytycznej twojego fakultetu..