Aspnes, D. Optical Characterization Techniques for Semiconductor Technology. SPIE Digital Library.
Чикаго стиль цитування (17-те видання)Aspnes, David. Optical Characterization Techniques for Semiconductor Technology. SPIE Digital Library.
Стиль цитування MLA (9-ме видання)Aspnes, David. Optical Characterization Techniques for Semiconductor Technology. SPIE Digital Library.
Попередження: стилі цитування не завжди правильні на всі 100%.