Aspnes, D. Optical Characterization Techniques for Semiconductor Technology. SPIE Digital Library.
توثيق أسلوب شيكاغو (الطبعة السابعة عشر)Aspnes, David. Optical Characterization Techniques for Semiconductor Technology. SPIE Digital Library.
توثيق جمعية اللغة المعاصرة MLA (الإصدار التاسع)Aspnes, David. Optical Characterization Techniques for Semiconductor Technology. SPIE Digital Library.
تحذير: قد لا تكون هذه الاستشهادات دائما دقيقة بنسبة 100%.