Aspnes, D. Optical Characterization Techniques for Semiconductor Technology. SPIE Digital Library.
Cytowanie według stylu Chicago (wyd. 17)Aspnes, David. Optical Characterization Techniques for Semiconductor Technology. SPIE Digital Library.
Cytowanie według stylu MLA (wyd. 9)Aspnes, David. Optical Characterization Techniques for Semiconductor Technology. SPIE Digital Library.
Uwaga: Te cytaty mogą odróżniać się od wytycznej twojego fakultetu..