Aspnes, D. Optical Characterization Techniques for Semiconductor Technology. SPIE Digital Library.
Chicago-referens (17:e uppl.)Aspnes, David. Optical Characterization Techniques for Semiconductor Technology. SPIE Digital Library.
MLA-referens (9:e uppl.)Aspnes, David. Optical Characterization Techniques for Semiconductor Technology. SPIE Digital Library.
Varning: dessa hänvisningar är inte alltid fullständigt riktiga.