Electron-Beam, X-Ray and Ion-Beam Techniques for Submicron Lithographies II

Bibliografiset tiedot
Muut tekijät: Blais, Phillip
Aineistotyyppi: Elektroninen E-kirja
Kieli:englanti
Julkaistu: SPIE Digital Library, 11/7/83
Aiheet:
Linkit:Full text available on Research4Life (SPIE Digital Library)
Kuvaus
Huomautukset:<strong>On-Campus Access Only (IP based access)</strong>
Ulkoasu:1 online resource
Aineistotyyppi:Mode of access: Internet
ISBN:9780892524280
Pääsy:Electronic access restricted to authorized AUW faculty, staff and students